时域热反射（TDTR）是一种光热技术，能够测量薄膜和块状基板的热导率以及界面热阻。该技术采用两束同步的超快激光（脉冲持续时间<1 ps）来分别实现对样品的加热（泵浦光）和温度响应的探测（探测光）。泵浦脉冲在0.2-20 MHz之间调制以控制热穿透深度并使用锁定放大器提取信号。探测脉冲经过机械平台使其到达样品的时间与泵浦脉冲相比延迟0.1到7 ns，以允许在此时间范围内测量样品表面的温度衰减。