中科院焦斌斌研究员受杨荣贵教授邀请来我院做专题讲座

 2023221日上午,来自中国科学院微电子研究所的焦斌斌研究员应杨荣贵教授邀请在清洁能源大楼N102报告厅做了专题讲座。焦斌斌老师的讲座题目为“芯片封装热测试系统以及芯片内嵌微流散热技术”,本次会议由杨荣贵教授主持,报告吸引了学院众多师生的参与。

 

 本次报告介绍一套针对电子系统高密度集成后所引发热问题的测试分析系统,该系统由焦老师团队开发的高空间分辨率、高功率密度且具备应力检测能力的热测试芯片以及一系列配套软硬件构成,能够实现对所设计电子系统封装方案热、应力特性的准确验证。同时本报告也介绍了焦老师团队基于所开发系统开展的芯片内嵌微流散热技术的研究进展。

 这次报告引起了师生们极大地兴趣报告。结束后,在场师生积极提问,焦斌斌研究员进行了耐心细致的解答。会后同学们纷纷表示这次报告拓宽了科研思路,受益匪浅。